Sciences et techniques - L'holographie : principe, application au contrôle non destructif et à la métrologie des microparticules
Sciences et techniques - L'holographie : principe, application au contrôle non destructif et à la métrologie des microparticules
P. Smigielski, H. Royer, H. Fagot, F. Albe, « Sciences et techniques - L'holographie : principe, application au contrôle non destructif et à la métrologie des microparticules
»Revue n° 394 Décembre 1979
- p. 123-136
